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儀思奇科技攜多款新產(chǎn)品亮相IPB2018

更新時(shí)間:2018-10-24      點(diǎn)擊次數(shù):3864

第十六屆中國(guó)粉體加工/散料輸送展覽會(huì)(IPB2018)作為粉體行業(yè)的重要的年度盛會(huì)2018年10月17日在上海世博展覽館盛大開(kāi)幕。儀思奇科技攜多款新產(chǎn)品此次會(huì)。此次參展主要產(chǎn)品主要新一代高分辨率圖像法粒度粒形分析儀IPAC2;圖像顆粒跟蹤zeta電位分析儀ZetaCompact®;固體表面電位ZetaCAD®超聲法粒度和zeta電位分析儀。

思奇科技一直孜孜以求于把的顆粒分析技術(shù)引入國(guó)內(nèi)市場(chǎng),讓新老客戶了解到的圖像粒度分析技術(shù)水平和豐富zeta電位解決方案。

此次展會(huì),儀思奇科技分辨率可達(dá)到0.17微米/像素的圖像法粒度粒形分析儀IPAC2。IPAC2圖像法粒度和粒形分析儀屬于濕法動(dòng)態(tài)分析儀器,其分析范圍粒度范圍:0.3~1000μm,具有1200萬(wàn)像素CMOS成像系統(tǒng),可配置自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)。IPAC2可以確定蛋白質(zhì)藥物中污染物來(lái)源及聚集體個(gè)數(shù),符合藥典要求;可對(duì)蛋白質(zhì)中氣泡、硅油、異物等進(jìn)行分類和數(shù)量統(tǒng)計(jì),并可用于拋光液中的顆粒計(jì)數(shù)。

OCCHIO公司的ghost技術(shù),以對(duì)透明顆粒進(jìn)行成像;強(qiáng)大的軟件系統(tǒng),使IPAC2具有跟蹤和計(jì)數(shù)功能。IPAC2解決蛋白質(zhì)、乳液樣品粒度粒形分析的利器。

在此次展會(huì)上同時(shí)展出了圖像法zeta電位zetaCompact®固體表面zeta電位ZetaCAD®。

圖像法zeta電位分析是用于光散射電泳法和電聲法zeta電位分析校準(zhǔn)的基準(zhǔn)儀器,可用于解決測(cè)量從20nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問(wèn)題,并計(jì)算膠體懸浮液的zeta電位。*,密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測(cè)量室底部。圖像法zeta電位zetaCompact® 采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內(nèi)測(cè)量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布,計(jì)算zeta值。并且能給出每個(gè)顆粒的zeta值,給出真正的zeta電位分布圖(如下圖),特別適合于乳液、纖維、混合材料、礦漿等樣品的測(cè)定和分離條件確定。

     固體表面電位分析儀ZetaCAD®是基于流動(dòng)電勢(shì)和流動(dòng)電流測(cè)量法,從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。ZetaCAD®適用于50μm以上的大顆粒、纖維和膜類等平坦的表面,或在一個(gè)壓力梯度下電解質(zhì)可以透過(guò)的曲面膜或中空纖維樣品,包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等,對(duì)不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。固體表面電位分析儀研究材料的表面電荷,了解材料表面上的電荷狀況,幫助科研人員在化學(xué)與材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特性。

在IPB同期舉行的2018第三屆上海醫(yī)藥粉體制備技術(shù)交流會(huì),邀請(qǐng)了國(guó)內(nèi)藥用粉體顆粒領(lǐng)域的專家開(kāi)展高峰論壇,儀思奇科技總經(jīng)理?xiàng)钫t先生應(yīng)邀做《靜態(tài)圖像法粒度和形貌分析技術(shù)在藥品質(zhì)量控制中的應(yīng)用》主題報(bào)告。通過(guò)此次論壇,儀器廠商交流學(xué)習(xí),廣大用戶互助探討,進(jìn)一步加深了對(duì)藥用粉體顆粒領(lǐng)域顆粒表征技術(shù)的理解。

 

思奇科技一直秉承創(chuàng)新儀器科技,支撐材料研究的理念;推廣的儀器,提供的服務(wù)為宗旨。

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