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表面zeta電位采用了什么測(cè)量技術(shù)

更新時(shí)間:2020-03-29      點(diǎn)擊次數(shù):959
  表面zeta電位是簡(jiǎn)單、方便而且的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器,其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合,使其具有的分辨率,足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)zeta電位儀中固有的電滲誤差的影響,從而使測(cè)量變得而方便。
 
  表面zeta電位采用的是電泳光散射原理:帶電顆粒在外加電場(chǎng)作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng),電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
 
  表面zeta電位主要是測(cè)量分散體系中帶電顆粒的zeta電位,廣泛應(yīng)用于現(xiàn)代科研、生產(chǎn)領(lǐng)域。比如在工業(yè)廢水、江河飲用水采水處理中,我們希望添加適合的絮凝劑,使水分散體系趨向于極不穩(wěn)定、水分散體系中的帶電顆粒絮凝成大團(tuán)并沉降,從而獲得干凈的水體。而相反的例子是在造紙工業(yè)中,我們希望調(diào)配較佳的漿體環(huán)境,使紙漿分散體系趨向于非常穩(wěn)定、紙漿分散體系中的帶電顆粒以極小微粒分散,從而獲得光潔平滑的紙張。
 
  表面zeta電位儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù),是同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀,可檢測(cè)粒徑從0.1nm到12.30μm,濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。在半導(dǎo)體,醫(yī)藥和食品行業(yè),陶瓷和顏料工業(yè),聚合物和化工領(lǐng)域有的應(yīng)用。

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